《低本底α和/或β測量儀型式評價大綱》征求意見稿發布

近日，*質量監督檢驗檢疫總局發布《低本底α和/或β測量儀型式評價大綱》征求意見稿，并向全國的計量技術機構、科研院所以及相關的行業企業征求意見。

該型式評價大綱適用于采用固體閃爍探測器和半導體探測器測量弱α、β放射性活度或表面發射率的儀器，也適用于多用途儀器中弱α或β放射性的部分。不適用于流氣正比計數器以及液體閃爍計數器和測量α或β能譜類型等儀器的型式評價。

據了解，評價大綱主要起草單位有中國測試技術研究院、中國計量科學研究院。該型式評價大綱為*發布，依據JJG 853—2013《低本底α、β測量儀》和GB/T 11682—2008《低本底α和/或β測量儀》文件中的條款，根據JJF 1002—2010《*計量檢定規程編寫規則》、JJF1016—2014《計量器具型式評價大綱編寫導則》和JJF1015—2014《計量器具型式評價通用規范》的要求制訂而成。

該大綱所涉及的低本底α、β測量儀，主要用于環境樣品、飲用水樣品、藥樣品、同位素生產等輻射領域中α、β的活度測量。該裝置主要由主探測器、反符合探測器、屏蔽體、測量和數據處理單元以及 計算機部件組成。

該大綱所述低本底α和/或β測量儀，按測量放射性對象可分為：只測量α粒子的低本底α測量儀，只測量β粒子的低本底β測量儀，既測量α粒子又測量β粒子的低本底α和β測量儀（或低本底αβ測量 儀）。按可同時放置樣品的數量可分為單樣品道測量儀、多樣品道測量儀。 按使用場合分為在實驗室使用的固定式和在車船上使用的車船載移動式或便攜式。

被測樣品中的α或β粒子進入該儀器主探測器，其使用的閃爍體是專為其設計的α、β閃爍體，當α粒子進入閃爍體時，將全部的能量損失在ZnS(Ag)材料上，引起閃爍發光且發光時間較長，從而在光電倍 增管上產生一個脈沖寬度較寬的α信號。β粒子穿透能力較強，它穿過ZnS(Ag)材料進入β閃爍物質，也引起閃爍體發光，但是發光時間較短，這時光電倍增管也產生一個脈沖寬度較窄的β信號。當來自主探測器的信號進入主機后，主機對其信號進行處理。對噪聲信號和電源紋波進行甄別，對宇宙射線和環境輻射進行反符合處理，而對α信號和β信號進行時幅變換，再在多道上顯示其結果。

在編寫中，該大綱參考了GB/T 11682—2008《低本底α和/或β測量儀》；JJG 853—2013《低本底α、β測量儀》；JJF 1016—2014《計量器具型式評價大綱編寫導則》；JJF 1015—2014《計量器具型式評價通用規范》； GB/T 19661.1—2005 《核儀器及系統安全要求第 1 部分：通用要求》；JJF 1001—2011《通用計量術語及定義》； GB/T 6587—2012《儀器通用規范》；GB/T 12726.2—2006 《電磁兼容試驗和測量技術靜電放電抗擾度試驗》；GB/T 12726.3—2006《電磁兼容試驗和測量技術射頻電磁場輻射抗擾度試驗》；GB/T 12726.4—2008《電磁兼容試驗和測量技術電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗》；GB/T 12726.5—2008《電磁兼容試驗和測量技術浪涌（沖擊）抗擾度試驗》；GB/T 12726.6—1998《電磁兼容試驗和測量技術射頻場感應的傳導騷擾抗擾度試驗》； GB/T 12726.11—2008《電磁兼容試驗和測量技術電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗》。

此外，應遵從JJF1071-2010《*計量校準規范編寫規則》的要求，此規范架構上包括封面、扉頁、目錄、引言、范圍、引用文件、概述、計量特性、校準條件、校準項目和校準方法、校準結果表達、復校時間間隔、附錄幾個部分。