國際標準正式發布“掃描探針顯微鏡漂移測量方法(ISO11039:2012)”

　　日前在儀器信息網上發布了相關儀器的國際標準政策，此政策的出臺標志著行業的規范正在一步步的朝著國際化標準進*，對行業來說是一種非常好的兆頭。

　　該標準由中國科學技術大學工程科學學院黃文浩教授主持制訂，主要針對制約掃描探針顯微鏡在納米測量和納米加工方面的進一步應用的問題而制訂。掃描探針顯微鏡在納米測量和納米加工方面應用時，經常會遇到掃描速率較慢，漂移現象等制約。

　　黃文浩教授致力于為該問題提出解決方案，在2006年*向國際標準化組織ISO/TC201提出了“掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法標準”提案。自2007年該提案正式立項后，經過數年的努力，該標準終于在2011年順利通過，并于近日正式發布。

　　該標準通過將掃描探針顯微鏡作時納米/秒的漂移大小和方向測量出來，從而規范儀器使用。該標準定義了漂移速率術語，以及SPM漂移速率的測量方法和測量程序，并對儀器功能等進行規范。該標準為掃描探針顯微鏡生產廠家提供了規范。同時也使得掃描探針顯微鏡在納米級測量中的應用突破瓶頸，范圍更加寬廣和深入，推動納米測量技術的發展。

　　欲了解*新政策，登錄“愛儀器儀表網”。