205DU電子分析天平是由瑞士梅特勒-托利多公司*新研制的,一款雙量程、*度高的電子分析天平,現由北京熙縝隆博環保科技有限公司代理,現在公司在做活動,特價處理,有意者請聯系101-68944366。
· 采用單模塊傳感器技術,提高稱量結果的準確性和天平抗沖擊和過載保護性能
· 采用外部砝碼校準,確保稱量結果的*性
· 內置RS232通訊接口,方便連接打印機、電腦等外圍設備
· 大而清晰的按鍵設計,方便天平使用。
· 標配機架塑料保護罩(Protective cover),避免散落樣品的腐蝕
· 可擴充電源包,方便天平在各種環境下的稱量
· 具有簡單稱量、百分比測量、計件稱量和動態稱量等內置用,滿足客戶的不同稱量需求
具體參數:
量 程:雙量程
6s接口更新速率:23/s
防風罩有效高度:232 (mm)
秤盤尺寸:80×75(mm)
天平外形尺寸:263×453×3221(mm)
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