本公司為銷售卡爾德意志 PC-LEPTOSKOP 2050 涂層測厚儀,除此之外我們還經銷水質分析儀,煙氣分析儀,紅外測溫儀等產品,如果您對 PC-LEPTOSKOP 2050 涂層測厚儀或者其他產品感興趣的話,歡迎撥打本網站的客服熱線!
產品簡介:
PC-LEPTOSKOP是由KARL DEUTSCH 公司提供膜層測厚儀的探頭,它只需和普通電腦的串口線相連。所以普通膜層測厚儀的功能均可通過與WINDOWS操作系統匹配的通用電腦軟件STATWIN 2002來實現。
當啟動statwin 2002時,一個真實的涂層測厚儀顯示圖像*可以顯示在個人電腦的屏幕上。 所有功能操作只需點擊一下鼠標或鍵盤。 STATWIN 2002用statwin 2002 ,可以分批儲存和管理幾乎任何數量的測量數據。 文件和歸檔幾乎是無限的。 此外,該軟件附帶了大量的統計功能,可以實現測量評估和批次。
除了有測量鐵磁性基體上非鐵磁涂層的厚度(如鋼鐵上的漆層或鉻層)和導電材料上的非導電層涂層的厚度(如非鐵金屬上的漆層) ,測量范圍到1200 μ m的標準探頭,我們還有特殊高精度的、能測量不同的小部位或復雜的幾何形狀的探頭,雙晶探頭可測量厚度高達12.5mm,我們同時還提供完整的配件。 為固定測試有特別的設計, PC-leptoskop 2050是一個*的膜層測厚儀。
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